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本发明公开了一种测试卡便捷测试的包装方法及便捷测试的测试卡，其中包装方法在于设置下托膜和上盖膜，在下托膜内放置测试卡条，采用上盖膜将测试卡条封闭在下托膜与上盖膜形成的内部空间中，在上盖膜开设观察窗及测试窗，在观察窗处设置透明保护膜，在测试窗...
该专利属于深圳市哈德胜精密科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市哈德胜精密科技股份有限公司授权不得商用。

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