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本发明涉及一种磁光克尔测量装置及获取磁畴壁图像的方法，磁光克尔测量装置包括：磁光克尔显微镜，所述磁光克尔显微镜包括目镜、CMOS相机；事件相机，所述事件相机包括底层芯片，所述事件相机设于所述磁光克尔显微镜的目镜上，并且所述事件相机与所述CM...
该专利属于香港中文大学（深圳）所有，仅供学习研究参考，未经过香港中文大学（深圳）授权不得商用。

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