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本发明涉及一种激光芯片测试分选机的上料机构及其工作方法，包括机架，所述机架上设有可在依次分布的取料工位、高温测试工位、低温测试工位之间往复移动的上料座，所述上料座的前侧左右两端分别设有吸料机构，所述吸料机构包含由驱动机构驱动升降的吸嘴安装座...
该专利属于泉州兰姆达仪器设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泉州兰姆达仪器设备有限公司授权不得商用。

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