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本发明涉及一种用于感测功率半导体的过温的装置和方法。本发明：通过功率半导体的控制电极提供电流脉冲源；复制由电流脉冲源提供的电流并将所复制的电流提供给模拟装置；比较控制电极两端的电压与模拟装置两端的电压；通知比较结果。知比较结果。知比较结果。...
该专利属于三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

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