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本实用新型公开的属于原子荧光光度计技术领域，具体为一种新型的原子荧光光度计检测装置，包括装置本体，所述装置本体的一侧连接机架，所述机架上分别设有位移机构和试管架，且位移机构位于试管架的上方，所述试管架包括上支撑板和下支撑板，所述上支撑板与所...
该专利属于深圳时代计量检测有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳时代计量检测有限公司授权不得商用。

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