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本发明公开了一种改进5步相移干涉算法在极小相移步长下的应用，具有这样的特征，包括以下步骤：步骤1，使相移器产生预先设定的极小相移步长；步骤2，由电荷耦合元件采样记录5幅干涉条纹图；步骤3，进一步由改进5步相移算法对干涉条纹图中的光强数据进行...
该专利属于苏州慧利仪器有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州慧利仪器有限责任公司授权不得商用。

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