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本申请公开了一种AOI缺陷检测方法，包括：获取待检测图像并进行ROI区域粗定位；基于语义分割模型对粗定位的ROI区域进行分割得到高精度区域；基于所述高精度区域分别进行检测模型预测和语义分割模型预测，分别得到缺陷区域的外接矩形区域和轮廓区域；...
该专利属于武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。

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