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本发明公开了一种电路板金手指区域缺陷检测方法及系统及装置及介质，涉及电子元器件生产领域，在获得待测电路图像后，采用基于深度学习的目标检测框架定位待测电路中金手指图像区域，根据所述金手指图像区域在所述待测电路图像中的坐标对待测电路图像进行分割...
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