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本申请提供了一种多阶段特征筛选方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：将候选特征分为多个层次；从多个层次中的低阶特征层开始，进行候选特征的预处理；利用树模型获得每个预处理后特征的特征重要性，并基于特征重要性对预处理后特征进行筛选，以获...
该专利属于深延科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深延科技（北京）有限公司授权不得商用。

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