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本申请提出一种物体表面变形场的测量方法、系统、设备和存储介质。其中，方法包括：确定初始场景下被测物体表面的多个标识点的第一初始空间三维坐标和被测物体表面的散斑区域内所有点的第二初始空间三维坐标；确定目标场景下每个标识点的第一变形空间三维坐标...
该专利属于浙江清华柔性电子技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江清华柔性电子技术研究院授权不得商用。

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