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本申请涉及一种半导体源数据解析方法、ETL系统、计算机设备和产品。所述方法包括：获取半导体源数据和所述半导体源数据的数据量，根据所述半导体源数据的数据类型，从多种不同类型的数据解析单元中确定与所述数据类型相匹配的目标数据解析单元，其中，所述...
该专利属于杭州广立微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州广立微电子股份有限公司授权不得商用。

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