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本公开提供了一种发光二极管芯片的分选产出的确定方法及装置、存储介质，属于芯片制造领域。该方法包括获取参数文件，所述参数文件记录有待分选的a个芯片的信息，所述信息包括光电参数和坐标；基于所述光电参数，确定每个待分选的芯片的等级；获取满BIN颗...
该专利属于华灿光电（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华灿光电（苏州）有限公司授权不得商用。

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