温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种Si衬底GaN外延薄膜的生长方法,该生长方法是在Si衬底上生长GaN薄膜时避免了AlN或AlN/AlGaN缓冲层的生长,通过对Si衬底预处理,形成隔离Si与Ga的界面,避免Ga与Si反应产生回熔;通过调整GaN应力调控层与G...该专利属于南昌硅基半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南昌硅基半导体科技有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种Si衬底GaN外延薄膜的生长方法,该生长方法是在Si衬底上生长GaN薄膜时避免了AlN或AlN/AlGaN缓冲层的生长,通过对Si衬底预处理,形成隔离Si与Ga的界面,避免Ga与Si反应产生回熔;通过调整GaN应力调控层与G...