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本公开实施例公开了一种半导体器件失效时刻预测方法、装置、设备及介质。本公开实施例提供的半导体器件失效时刻预测方法，包括：获取所述半导体器件的静态参数的第一阶段测试数据，其中，所述测试数据为时间序列数据；基于所述第一阶段测试数据和预先构建的差...该专利属于北京智芯微电子科技有限公司国网宁夏电力有限公司电力科学研究院国家电网有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智芯微电子科技有限公司国网宁夏电力有限公司电力科学研究院国家电网有限公司授权不得商用。