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本发明提供一种缺陷样本筛选方法、装置及设备。该方法包括：将图片切割成多张预设尺寸的子图片，其中，每张子图片为一张样本图片；将多张样本图片输入训练完成的师
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该专利属于武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。

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