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本公开内容涉及用于显示处理的方法和装置。在一些方面中，该装置可以测量包括一个或多个面板测量的至少一个面板。该装置还可以确定针对一个或多个面板测量中的每个面板测量的至少一个校正因子。进一步地，该装置可以基于一个或多个面板测量中的每个面板测量来...
该专利属于高通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高通股份有限公司授权不得商用。

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