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本发明涉及一种基于质量引导的枝切线相位解包裹方法，属于结构光精密测量技术领域。本发明首先利用包裹相位的二阶微分作为残差检测原理的补充条件，把包裹相位二阶微分中的跳跃点视为无极性残差点。然后利用调制度作为残差点有效性的判断依据，把低调制度的残...
该专利属于昆明理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过昆明理工大学授权不得商用。

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