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本公开提供了印制电路板的布局参数确定方法、装置、存储介质及电子设备,该方法包括:确定位于第一区域内的屏蔽层的第一形变量与相邻的两个元件之间的间距之间的第一关联关系;确定位于第二区域内的屏蔽层的第二形变量与第二区域内屏蔽层的宽度之间的第二关联...该专利属于京东方科技集团股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。
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