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本发明提供了一种IGBT芯片结温估算补偿方法及系统，IGBT芯片结温估算补偿方法包括以下步骤：选取IGBT芯片的结温基准点，片上传感器的检测温度为基准温度；设定测试或仿真工况，获取结温基准点的结温热纹波；检测片上传感器的测试检测温度，并记录...
该专利属于上海临港电力电子研究有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海临港电力电子研究有限公司授权不得商用。

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