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本发明公开了一种基于双层正交网格状分布的边孔光纤光栅表面形貌检测装置及测量方法，属于光纤光栅传感领域。所述形貌检测装置由内部嵌入的边孔光纤光栅传感器阵列和覆盖于阵列外的三层硅胶片组成，重点在于所述边孔光纤光栅传感器阵列编排成双层正交网格状分...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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