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本发明涉及集成电路检测技术领域，具体是一种应用于集成电路检测的筛选装置，包括放置架、多个固定在放置架顶部的连接柱、固定在连接柱顶部上的基准圆板和设置在基准圆板顶部上的工作圆板，所述工作圆板和放置架之间设置有转动组件，所述工作圆板的外侧壁开设...
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