温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
提供一种辐射检查系统和方法。所述辐射检查系统包括:辐射成像装置;多个检测装置,分别设置在辐射检查位置的下游的多个预设位置处,多个预设位置与辐射检查位置之间沿检查通道限定的行进方向的距离不同,多个检测装置分别用于检测被检物体的需避让部分的前端...该专利属于同方威视科技(北京)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过同方威视科技(北京)有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
提供一种辐射检查系统和方法。所述辐射检查系统包括:辐射成像装置;多个检测装置,分别设置在辐射检查位置的下游的多个预设位置处,多个预设位置与辐射检查位置之间沿检查通道限定的行进方向的距离不同,多个检测装置分别用于检测被检物体的需避让部分的前端...