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本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置和测量方法，所述测量装置包括激光束调制系统，相位光阑4f成像系统，4f成像测量系统和显微成像系统，其特征在于，4f测量装置与显微成像系统共用一个透镜，透镜为显微物镜。通过设置...
该专利属于苏州微纳激光光子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州微纳激光光子技术有限公司授权不得商用。

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