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本发明提供的一种多工位高速测试装置及方法，通过在产品托盘上设置坐标原点，建立坐标系，将待测试产品设置于坐标系上，在测试夹具上设置多个薄膜探针卡，基于坐标确定且回避待测试产品中的规避点，避免了薄膜探站卡的损耗；通过设置探针上限次数来限制每个待...
该专利属于全讯射频科技(无锡)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过全讯射频科技(无锡)有限公司授权不得商用。

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