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本发明公开了一种圆柱体构件内部孔缺陷检测方法，包括如下步骤：在已确定缺陷存在的圆柱体构件截面位置处建立坐标系，使用超声波探头在该截面扫描，并据每次扫描的A形图判断并记录缺陷波的渡越时间Δτ和最大振幅A
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该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

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