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本发明公开了一种紧凑型成像光谱仪及成像检测方法，其中，包括：依次设置于待测物之后且位于同一光轴上的匀光偏振光阑、双折射晶体组、检偏器、后置成像透镜以及面阵探测器；匀光偏振光阑设置有第一区域和第二区域，待测物的影像光线经过第一区域和第二区域后...
该专利属于深圳大学所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大学授权不得商用。

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