下载一种基于机器学习高效预测半导体材料带隙的方法的技术资料

文档序号:34103022

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本发明公开了一种基于机器学习高效预测半导体带隙的方法,包括建立样本集、数据预处理并选出建模的特征子集、划分训练集和测试集、构建高效预测模型、预测测试集样本的带隙,实现快速预测半导体的带隙。本发明通过来源于文献和数据库中的样本数据,建立了高效...
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