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适用于测量微振动的光学系统技术方案
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下载适用于测量微振动的光学系统的技术资料
文档序号:34092826
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一种适用于测量微振动的光学系统,该光学系统包括:光源模块,包括:半导体泵浦源,适用于产生泵浦光;耦合透镜系统,适用于使泵浦光聚焦,得到聚焦光;增益介质单元,适用于吸收聚焦光产生第一线偏振激光和第二线偏振激光,第一线偏振激光的波长和第二线偏振...
该专利属于天津大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津大学授权不得商用。
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