下载一种芯片测试用冷却系统的技术资料

文档序号:34071121

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本申请提供一种芯片测试用冷却系统,包括工作台和冷却组件,工作台包括第一底座、驱动部和夹持部,第一底座上设置有凸台,凸台的面积与待测试芯片的面积适配,驱动部与夹持部连接,凸台用于放置待测试芯片,驱动部用于驱动夹持部夹持固定待测试芯片;冷却组件...
该专利属于武汉锐科光纤激光技术股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉锐科光纤激光技术股份有限公司授权不得商用。

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