下载一种半导体光学检测设备的技术资料

文档序号:34032212

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本实用新型涉及半导体检测技术领域,具体是一种半导体光学检测设备,包括底座,所述底座的顶部活动套接有盖板,盖板的顶部固定连接有放置台,盖板的顶部固定连接有检测仪器本体,检测仪器本体与放置台的位置相适配,底座的底部内壁固定连接有两个固定杆,两个...
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