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用于缺陷检测的方法、装置、检测设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:34018000
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本申请涉及深度学习技术领域,公开一种用于缺陷检测的方法,包括:获得被检测部件的深度图像;对深度图像进行预处理,获得待去噪数据;对待去噪数据进行频域转换,获得频域数据;根据条纹噪声的频域特征和缺陷的频域特征,对频域数据进行滤波处理,滤除频域数...
该专利属于北京明略软件系统有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京明略软件系统有限公司授权不得商用。
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