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本发明提出了一种可用于检测相位编码QKD设备光源注锁漏洞的攻击端结构，以及基于该攻击端结构实现的检测装置及方法。借助本发明的攻击端设计，使得能够先截取受攻击的相位编码信号光对并对其进行测量获取密钥信息，随后制备具有相同相位编码信息且具有正常...
该专利属于科大国盾量子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过科大国盾量子技术股份有限公司授权不得商用。

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