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本发明提出了一种具有更高精度的抗种子光攻击的检测方法及装置。其中，利用QKD设备的同步信号实现检测装置与QKD设备之间的时间同步，并以脉冲光作为种子光攻击的模拟信号，使得能够允许较低的种子光功率，以及在受攻击的量子光信号的时间窗口上进行单光...
该专利属于科大国盾量子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过科大国盾量子技术股份有限公司授权不得商用。

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