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本发明提供了一种多光谱温度测量装置、系统及其测量方法，装置包括：物镜单元收集待测目标中固体颗粒的第一辐射光束后提供至辐射衰减单元；辐射衰减单元对所述第一辐射光束进行衰减后得到第二辐射光束并提供给狭缝机构；狭缝机构对所述第二辐射光束的角度进行...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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