温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种坏点检测方法、坏点校正方法及坏点处理系统，坏点检测方法包括以下步骤：S0：采集探测器在出厂之前的数据并制成数据库；其中，数据至少包括图像数据中的像素值或灰度值；S1：基于数据库搭建神经网络，进而训练生成第一坏点检测模型；S2：...该专利属于上海奕瑞光电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海奕瑞光电子科技股份有限公司授权不得商用。
温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种坏点检测方法、坏点校正方法及坏点处理系统，坏点检测方法包括以下步骤：S0：采集探测器在出厂之前的数据并制成数据库；其中，数据至少包括图像数据中的像素值或灰度值；S1：基于数据库搭建神经网络，进而训练生成第一坏点检测模型；S2：...