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本申请提供的用于测试待测试设备的测试设备及测试方法，其中，测试设备包括：静电器、绝缘测试台、导电介质和第一阻抗元件；待测试设备、以及导电介质放置于绝缘测试台上，待测试设备与导电介质接触；导电介质与第一阻抗元件电连接，并且第一阻抗元件接地；静...
该专利属于海信视像科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海信视像科技股份有限公司授权不得商用。

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