温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

描述了用于同时测量来自直径相差100nm或更大的颗粒的散射光(例如，在流动流中)的光检测系统。根据某些实施例的光检测系统包括静态光学调节组件、可变光学调节组件和光检测器。还提供了用于测量来自样品(例如，在流动流中)的散射光的系统和方法，以及...
该专利属于贝克顿所有，仅供学习研究参考，未经过贝克顿授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。