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一种电子元件引脚测试机构以及测试方法技术
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文档序号:33835501
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本发明涉及电子设备技术领域,具体为一种电子元件引脚测试机构以及测试方法,包括工作台,工作台顶部有用于对电子元件引脚长度进行检测将引脚有问题的电子元件进行统一收集处理的检测机构;本发明通过设置检测机构,当输送道对电子元件进行输送时会经过安装架...
该专利属于陈志东所有,仅供学习研究参考,未经过陈志东授权不得商用。
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