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本实用新型公开一种样品平面精确定位装置及X射线荧光光谱仪，装置包括测样面板、样品中板、样品上板、样品盘、横移机构和纵移机构，样品中板通过第一滑动装置安装在测样面板上，纵移机构设置在测样面板上，纵移机构与样品中板固定连接，纵移机构驱动样品中板...
该专利属于深圳市禾苗分析仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市禾苗分析仪器有限公司授权不得商用。

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