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本发明公开了一种用于物理不可复制功能(简称PUF)品质检查的内建自我测试电路以及内建自我测试方法。所述内建自我测试电路包含PUF阵列、读出电路及第一比较电路。所述PUF阵列包含多个PUF单元，其中每一PUF单元包含第一存储单元及第二存储单元...
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