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一种面向芯片实验室的拉曼光谱检测简化缩微方法技术
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文档序号:33730094
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本发明公开了一种面向芯片实验室的拉曼光谱检测简化缩微方法,激光器发射的激光通过滤光片照射到微流控芯片的样品待检测区上;经过样品待检测区拉曼散射的光线经过滤光片组被光电探测器接收,经由信号处理电路进行数据采集并传输至终端设备。激光光源经过透过...
该专利属于北京工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京工业大学授权不得商用。
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