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在泛电子领域高速高精度的3D测量系统中关于电路板元素（如丝印，锡膏，孔洞，异物，元件等）识别一直是复杂的问题，由于不同类型的电路板颜色各异，甚至同一类型的电路板都可能出现很大的色差，且电路板表面可能受光照不均匀、材质吸光或反光等因素影响，传...该专利属于上海像景智能科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海像景智能科技有限责任公司授权不得商用。
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在泛电子领域高速高精度的3D测量系统中关于电路板元素（如丝印，锡膏，孔洞，异物，元件等）识别一直是复杂的问题，由于不同类型的电路板颜色各异，甚至同一类型的电路板都可能出现很大的色差，且电路板表面可能受光照不均匀、材质吸光或反光等因素影响，传...