温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种高精度散斑及其制备优化和应变测量方法，制备与优化方法包括以下步骤：确定与试样适配的散斑尺寸，并选取所述尺寸的含散斑的纳米金
...
该专利属于华东理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东理工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。