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一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法技术方案
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文档序号:33640547
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本发明提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法,所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片,其中,干扰波形发生器具有输出端,待测芯片具有电源端,计算机连接智能卡测试仪,智能卡测试仪连接测试夹具,干扰波...
该专利属于紫光同芯微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过紫光同芯微电子有限公司授权不得商用。
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