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本发明提供了一种面向测试仪器的健康状态检测方法及系统,包括:获取待测仪器内部电路板上模拟节点的测试电压数据;依据电压数据对电路板进行分类,得到电路板状态类别矩阵;依据电路板状态类别矩阵和预设的相关性因子矩阵,计算仪器功能状态评估矩阵;相关性...该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。
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本发明提供了一种面向测试仪器的健康状态检测方法及系统,包括:获取待测仪器内部电路板上模拟节点的测试电压数据;依据电压数据对电路板进行分类,得到电路板状态类别矩阵;依据电路板状态类别矩阵和预设的相关性因子矩阵,计算仪器功能状态评估矩阵;相关性...