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老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸
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文档序号:33635875
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本发明提供一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括:对待测试部件组进行老化测试,并记录在设定时长T内各个时间段的故障个数,其中T包含的时间段的总个数为M,每个时间段的时长为t;计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和,其...
该专利属于烽火通信科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过烽火通信科技股份有限公司授权不得商用。
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