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本发明公开一种氢同位素气体中杂质分析装置，包括载气气源、标准气体气源、样品容器、色谱柱箱、氢气净化器以及热导检测器，色谱柱箱内包括第一色谱柱和第二色谱柱，氢气净化器能够吸附氢同位素气体。本发明在第一色谱柱之前串联氢气净化器，氢气净化器能够吸...
该专利属于中国工程物理研究院材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院材料研究所授权不得商用。

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