下载一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质的技术资料

文档序号:33631904

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本发明提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取已标注的图像样本,建立数据集,所述图像样本由两个图像块组成且所述图像样本的标注为同类或不同类,所述图像块具有基于多个颜色空间确定的特征向量;构建基于打分网络的缺陷检测...
该专利属于浙江省北大信息技术高等研究院所有,仅供学习研究参考,未经过浙江省北大信息技术高等研究院授权不得商用。

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