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本发明提供一种光电图像传感器单个粒子位移损伤的测试系统及方法，主要解决现有测试方法无法快速准确对光电图像传感器单个粒子位移损伤效应进行测试的问题。该测试系统中，光电图像传感器安装在辐照板上，辐照板设置在自动移动平台上；FPGA控制模块、电源...
该专利属于西北核技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西北核技术研究所授权不得商用。

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