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本发明属于电子技术领域，具体涉及一种热点分析的方法和系统，包括：S1：将一失效芯片设置在一热点分析设备使用的测试板上，并通过单片机推送一测试程序到所述失效芯片中，通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备波形，确认所述失效芯片正常运行的测试程序...
该专利属于上海季丰电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海季丰电子股份有限公司授权不得商用。

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